1. 温度冲击试验

温度冲击试验是指把试样暴露在温度突变或渐变的环境中进行的试验。温度冲击试验目的是为了在较短的时间内确认产品特性的变化，以及由于构成元器件的异种材料热膨胀系数不同而造成的故障问题。这些变化可以通过将元器件迅速交替地暴露于超高温和超低温的试验环境中观察到。

本实验室可提供0.5m3～2.6m3温度试验箱，可提供温度为-70℃～150℃的温度，进行最大速率为15℃/min的温度变化试验以及温度冲击试验，在1min～5min钟内达到温度转换。

2. 试验参考主要标准

GB/T 2423.22-2012电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法.试验N：温度变化。

GJB 150.5-86 军用设备环境试验方法 温度冲击试验。

GJB 150.5A-2009军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验。

GJB  360B-2009电子及电气元件试验方法 方法107：湿度冲击试验。

RTCA/DO-160G-2010机载设备环境条件和试验程序 第5部分：温度变化。

3. 主要试验设备